4008529632
當前位置:首頁 > 產品中心 > 膜厚儀 > Thetametrisis膜厚儀
產品分類
膜厚儀
查看全部產品
相關文章
硅片厚度測量儀采用的是近紅外光(NIR)來測量膜層厚度,因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導體膜層) 。
在線咨詢
電話
微信掃一掃
返回頂部